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Elektronenmikroskopie

Grundlagen, Methoden, Anwendungen
Verfasser*in: Suche nach Verfasser*in Flegler, Stanley L.; Heckman, John W.; Klomparens, Karen L.
Verfasser*innenangabe: Stanley L. Flegler ; John W. Heckman ; Karen L. Klomparens
Jahr: 1995
Verlag: Heidelberg [u.a.], Spektrum, Akad. Verl.
Mediengruppe: Buch
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Inhalt

Die Autoren geben auf Grund jahrzehntelanger Erfahrung und unter Berücksichtigung neuester Erkenntnisse Auskunft über Wirkprinzipien und -bedingungen der verschiedenen Mikroskoptypen (u.a. physikalische Grundlagen, technische Geräte), deren praktische Handhabung (z.B. Präparationsverfahren, Interpretationsmöglichkeiten und -grenzen), die verschiedenen Techniken und Verfahren (inklusive der neuesten bildgebenden und -verarbeitenden Verfahren). Diese Einführung bildet ein ausgezeichnetes 'Handgepäck' für Studierende und Praktiker im Labor. (Verlagsinformation)
 
/ AUS DEM INHALT: / / /
1 Einführung 1
Einzigartige Abbildungen 2
Andere Geräte zur mikroskopischen Abbildung 7
Zur Geschichte der Elektronenmikroskopie 8
Das Auflösungsvermögen der Elektronenmikroskope 10
In der Elektronenmikroskopie verwendete Längeneinheiten 12
Die Sicherheit in den Elektronenmikroskopie-Laboratorien . . . . . . . 12
 
2 Elektronenquellen und Elektronenlinsen 15
Elektronenquellen 15
Elektronenlinsen 22
 
3 Vakuumsysteme 29
vakua für die Elektronenoptik 29
Dynamik und Terminologie des Vakuums 30
Vakuumpumpen für Elektronenmikroskopie-Laboratorien 32
Vakuum-Meßmethoden 43
In der Elektronenmikroskopie eingesetzte Vakuumsysteme 47
 
4 Das Transmissionselektronenmikroskop 53
Theoretische Grundlagen 54
Reelle Bilder 56
Virtuelle Bilder 56
Schärfentiefe und Bildschärfebereich 57
Aufbau eines Transmissionselektronenmikroskops 60
Transmissionselektronenmikroskope mit mittleren und hohen Beschleunigungsspannungen 79
 
5 Das Rasterelektronenmikroskop 81
Theoretische Grundlagen 81
Strahl-Probe-Wechselwirkungen 89
Gerätevariablen 106
Ultrahochaufiösende Rasterelektronenmikroskope 113
Rasterelektronenmikroskopie unter Umgebungsbedingungen 115
Das Raster-Transmissionselektronenmikroskop 117
Das Rastertunnelmikroskop und das Atomic Force Microscope 120
 
6 Probenpräparation für die TEM 125
Die Negativkontrastierung kleiner Teilchen 126
Ultramikrotomie größerer Proben 129
Vakuumbedampfungsanlagen und Verdampfungsverfahren 162
Schrägbeschatten und Oberflächenabdrücke 169
Zytologische Verfahren 181
Präparation nichtbiologischen Materials 189
 
7 Probenpräparation für die REM 193
Montage der Präparate 193
Das Aufbringen elektrisch leitender Schichten 195
Spezielle Methoden für verschiedene Probentypen 202
Die Präparation biologischer Proben 203
Alternative Methoden für biologische Proben 206
REM-Histochemie für biologische Proben 212
 
8 Röntgenmikroanalyse 219
Die Erzeugung von Röntgenstrahlen und ihre Bezeichnungen 220
Die Messung von Energie und Wellenlänge der Röntgenstrahlung . . . . 223
Der Aufbau des EDS-Detektors 224
Der Aufbau des EDS-Röntgenanalysators 228
Ausgaben 228
Sammlung von Spektren und Interpretation 230
Die Optimierung des Nachweises von Röntgenstrahlung 232
Artefakte 235
Quantitative Analyse 240
Probenpräparation 245
 
9 Elektronenmikrografie 251
Der fotografische Prozeß mit Silber 251
Fotografische Abzüge 256
Die Mikrofotografie in der TEM 261
Die Mikrofotografie in der REM 266
Die elektronische Dunkelkammer 268
Präsentation und Veröffentlichung von Mikrofotografien 271
 
Sach- und Namenverzeichnis 275

Details

Verfasser*in: Suche nach Verfasser*in Flegler, Stanley L.; Heckman, John W.; Klomparens, Karen L.
Verfasser*innenangabe: Stanley L. Flegler ; John W. Heckman ; Karen L. Klomparens
Jahr: 1995
Verlag: Heidelberg [u.a.], Spektrum, Akad. Verl.
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Systematik: Suche nach dieser Systematik NN.A
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ISBN: 3-86025-341-7
Beschreibung: VIII, 279 S. : Ill., graph. Darst.
Schlagwörter: Einführung, Elektronenmikroskopie, Abriss, Kompendium <Einführung>, Lehrbuch <Einführung>, Leitfaden, Populärwissenschaftliche Darstellung <Formschlagwort>, Programmierte Einführung <Formschlagwort>, Repetitorium <Formschlagwort>
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Originaltitel: Scanning and transmission electron microscopy <dt.>
Fußnote: Aus dem Amerikan. übers.
Mediengruppe: Buch