Aktion	Zweigstelle	Standorte	Status	Frist	Vorbestellungen
Vorbestellen	Zweigstelle: 07., Urban-Loritz-Pl. 2a	Standorte: NN.CN Böck / College 6a - Naturwissenschaften	Status: Verfügbar	Frist:	Vorbestellungen: 0

Der Band gibt einen Überblick über die verschiedenen Methoden der Atom- und Molekülspektrometrie und die vielen analytischen Fragestellungen, die in Labors, Natur- und Ingenieurswissenschaften sowie Umwelttechnik und -analytik auftreten.

 

 

 

 

 

 

/ AUS DEM INHALT: / / /

 

 

Geleitwort Vorwort Einführung . Historie . Warum instrumentelle Analytikß Spurenanalytik Hoher Probendurchsatz . Spektroskopie . Auf der Suche nach dem "Nichts" Beispiel Platin Grenzen der Spurenanalytik Der Weg zu brauchbaren Spurenanalysen Probennahme . Stand und Trends in der Umweltanalytik Wechselwirkung zwischen Licht und Materie . Innere und augere Wechselwirkungen . Absorptions- und Emissionsspektroskopie . Atom- und Molekühlspektroskopie . Anregungsbedingungen . Einteilung der Spektralbereiche . Magsysteme der Spektroskopie Absorptionsstelle Absorptionsintensität . Besetzungsverhältnis . Ubergangswahrscheinlichkeit . Lambert-Beersches Gesetz . Qualitative und quantitative Analyse Qualitative Analyse Quantitative Analyse . Konventionelles Spektrometer Einstrahl-Spektrometer Zweistrahl-Spektrometer UV/Vis-Spektroskopie . Klassifizierung der Elektronenubergänge Franck-Condon-Prinzip . Theoretische Berechnung von Elektronenßbergangen Dissoziationsenergie und Ionsierungspotential Chromophore . Erlaubte und verbotene Ubergäinge . Merinzip Lichtquellen Monochromator Detektor Kßvetten . Messung des Spektrums Schwingungs-Feinstruktur . Konzentrationsbestimmung ßber die Eigenfärbung . Mehrkomponentenanalyse . Doppelwellenlöngen-Messung . Differenzspektren . Derivativspektren . Anforderungen an ein modernes Spektrometer . Diodenarray-Technologie in der UV/Vis-Spektroskopie Konventionelles Spektralphotometer Diodenarray-Spektralphotometer Vorteile der Diodenarray-Technologie . Einstrahl-Geräte . Schnelle Erfassung spektraler Daren . Simultane Messung eines Spektrums . Wellenlingen-Reproduzierbarkeit . Meßbereich . Statistik der Mefgdaten . Einkopplung von Lichtleitern Theorie der Lichtleiter- Anwendung des Lichtleitersystems . Schnelltests zur Wasseruntersuchung Beispiel: Photometrische Cu-Bestimmung im Spurenbereich Teststöibchen Komparator-Testbestecke (Kolorimetrie) Kleinphotometer mit Fertigprogrammen Referenzstrahl-Technik . Zusammenfassung und Ausblick Fluorimetrie . Grundlagen der Lumineszenzstrahlung . Fluoreszenz . Phosphoreszenz . Mefs'parameter Fluoreszenz-Quantenausbeute Quantitative Analyse Fluoreszenzlöschung Fluoreszenz-Labelling . Fluoreszenz-Spektrometer Verschiedene Spektrenarten Spektrenkorrektur Lichtstreuung Weitere Fehlermöglichkeiten . Probenhalterung . Temperatureinfluß . Laserinduzierte Fluoreszenz (LIF) . Zeitaufgelöste Fluorimetrie . Zusammenfassung und Ausblick Infrarot-Spektroskopie . Historie . Prinzip Auswahlregeln . IR-Spektrum . Spektrenauswertung Theoretische Betrachtung . Harmonischer Oszillator . Anharmonischer Oszillator . Mehratomige Moleküle Empirische Betrachtung . Aufnahmetechnik Konventionelle IR-Spektrometer Fourier-Transform(FT-IR)-Spektrometer . Michelson-Interferometer . Vorteile des FT-IR-Spektrometers Qualitative Analyse Quantitative Analyse . Praparationsmethoden Flüssigkeiten und Lösungen Festkörper . KBr-PreStechnik . Nujol-Technik Gase . IR-Reflexionsspektroskopie ATR-Technik . Prinzip . Anwendungen Augere Reflexion in der IR-Spektroskopie . Gerichtete Reßexion . Reflexions-Absorptions-Spektroskopie (IRRAS) . Diffuse Reflexion (DRIFT) Kramers-Kronig-Transformation Quantitative Analyse bei diffuser Reflexion . Anwendungen der Reßexionsspektroskopie . Kopplung mit Lichtleitern . Photoakustischer Detektor . Infrarot-Mikroskopie Funktionsweise Proben . Kopplungstechniken GC-FT-IR-Kopplung TGA-FT-IR-Kopplung . Rechnereinsatz in der IR-Spektroskopie . Zusammenfassung und Ausblick NIR-Spektroskopie . Unterschiede zwischen NIR- und MIR-Spektroskopie . NIR-Spektrometer . Anwendungen Bestimmung des Wassergehaltes Einsatz beim Recycling von Kunststoffen . Zusammenfassung und Ausblick Raman-Spektroskopie . Theorie . Auswahlregeln . Raman-Spektrometer . Anwendungen . Zusammenfassung und Ausblick Mikrowellenspektroskopie . Theorie der Rotationsspektren . Mikrowellenspektrometer . Anwendungen: Bestimmung von Atomabstönden und Valenzwinkeln Bestimmung von Dipolmomenten Kernquadrupolkopplung . Zusammenfassung und Ausblick Atomabsorptionsspektrometrie . Historie . Prinzip . Linienspektrum Auswahlregeln Auswahl der Linien Empfindlichkeit und Nachweisgrenzen . Aromabsoptionsspektrometer Modulationsprinzip und spektrale Interferenzen Lininebreite . Hohlkatodenlampen Mehrelement-Hohlkatodenlampen Elektrodenlose Entladungslampen . Atomisierung Atomisierung in Flammen . Luft-Acetylen-Flamme . Lachgas-Acetylen-Flamme . Zerstöuber und Mischkammer . Kalibrierung und Kurvenkorrektur Atomisierung im Graphitrohrofen . Extrem schnelle Heizrate . L'vov-Plattform . Temperatursprung und Gasstop . Signalßöchenintegration . Grafische Verfolgung der Atomisierung . Matrixmodißkation Hydrid- und Kaltdampftechnik Kriterien zur Auswahl der bestgeeigneten AAS-Technik . Interferenzen Chemische Interferenzen Physikalische Interferenzen Ionisations-Interferenzen Spektrale Interferenzen Additionsmethode . Untergrundabsorption Kompensation mit Kontinuumstrahlern Zeeman-Untergrundkorrektur . Zeeman-Effekt . Verschiedene Zeeman-AAS-Systeme . Grenzen der Zeeman-Untergrundkorrektur Smith-Hieftje-System . Instrumentation Simultane Multielementbestimmung . Fließinjektionsanalyse in der Atomabsorptionsspektrometrie . FI-Quecksilber/Hydrid-AAS FI-Flammen-AAS F in Verbindung mit einem Hochdruckzerstaubersystem . Kopplung mit der Ionenchromatographie . Elementanreicherung und Matrixabtrennung Zukunftsperspektiven der Fliefünjektion in der AAS . AAS-Labor Abzugsanlage für die Flammen-AAS . . Arbeitsraum . Brennerdrainage . Zusammenfassung und Ausblick Atomfluoreszenzspektrometrie Atomspektrometrie mit Plasmen Grundlagen . Was ist Plasmaß . Erzeugung von Plasma Induktiv gekoppeltes Plasma Dreielektroden-Gleichstromplasma Mikrowelleninduziertes Plasma . Komponenten des ICP-Spektrometers Hochfrequenzgenerator . Plasmabrennersystem . Torches . Verschiedene Betriebsarten . Zerstaubung . Zerstöiuberkammer Verringerung des Argonverbrauchs . Aufbau einer ICP-Apparatur . ICP-Sequenz-Emissionsspektrometer . Monochromator beim sequentiellen Spektrometer Außösungsvermbgen Czerny-Turner-Monochromator ICP-Analytik genau im Linienpeak ICP-Multielement-Emissionsspektrometer Paschen-Runge-Polychromator Kombinierte Simultan-Sequenz-ICP-Spektrometer ICP-Spektrometer mit Echelle-Gitter . Simultane Messung aller Elements auf allen Wellenlöingen Probleme der Multielementbestimmung Lichtleiter bei ICP-Spektrometern Axiale Plasmabeobachtung Verwendung eines inneren Standards . Stijrungen in der ICP-OES . Untergrundstijrungen . Streulicht . Spektrale Interferenzen Erkennung und Kompensation von Untergrundstörungen . Messung einer Blindlösung Ubersichtsanalyse . Ausweichen auf andere Linien . Messung des Untergrundes neben der Analysenlinie . Standardlösungen für die Atomemissionsspektrometrie . Hydridsystem . Analyse fester Proben . Funkenemissionsspektrometrie . Glimmentladung . Laserinduzierte Mikroplasmen Graphitrohrtechnik . AAS Oder ICPß Die Wahl des richtigen Spektrometers für die Elementanalyse . Nachweisgrenzen Linearer dynamischer Arbeitsbereich Mneschwindigkeit Interferenzen Reproduzierbarkeit Weitere wichtige Punkte . Plasmamassenspektrometrie Verfahrensprinzip der ICP-MS . . ICP-Einheit ICP-MS-Interface . Massenspektrometer Vorteile der ICP-MS . Semiquantitative Analyse . Bestimmbare Elemente . Analytische Beschrankungen Neue Anwendungen . Zusammenfassung und Ausblick Massenspektrometrie . Grundlagen . Massenspektrum Stabilitat von Bruchstücken Umlagerungsprozesse Metastabile Ionen . Ionenerzeugung Elektronenstoßionisation Chemische Ionisierung Ionen-Molek'Lil~Reaktionsmassenspektrometrie MALDI-MS MS-Analyse schwerflüchtiger Verbindungen Massenspektrometrie mit negativen Ionen . Massenspektrometer Quadrupol-Massenspektrometer Magnetfeld-Massenspektrometer Flugzeit-Massenspektrometer Tandem-Massenspektrometer . Zusammenfassung und Ausblick Kernmagnetische Resonanz-Spektroskopie . Grundlagen . Chemische Verschiebung . Spin-Spin-Kopplung . Aufnahme von NMR-Spektren Empfindlichkeit Substanzbedarf Spektrenakkumulation Integration Quantitative Analyse Magnetfeld . NMR-Spektrometer CW-Spektrometer PFT-NMR-Spektrometer Relaxationsmessungen . Doppelresonanz-Technik . Zweidimensionale NMR-Spektroskopie . Kern-Overhauser-Effekt . Anwendungen der NMR-Spektroskopie C-NMR-Spektrocopie Deuterium-NMR-Spektroskopie NMR-Tomographie NMR-Mikroskopie Festkörper-NMR Ionen-Cyclotron-Resonanz . Zusammenfassung und Ausblick Röntgenfluoreszenzanalyse . Begriff Rontgenfluoreszenz . Grundlagen Auger-Effekt Fluoreszenzausbeute . Charakteristische Spektrallinien Zinn-K-Spektrum Gold-L-Spektrum . Gesetz von Moseley . Anregung Erzeugung von Rontgenstrahlen . Rontgenbremsstrahlung . Charakteristische Strahlung . Wahl des Anodenmaterials . Absorption der Rontgenstrahlung Anregung der charakteristischen Strahlung Primar- und Sekundarabsorption . Rbntgenröhre Anregung dutch Radionukleide . Röntgenspektrometer Wellenlangen-Dispersionsmethode Energie-Dispersionsmethode . Röntgendetektoren Szintillationszühler Gaszahlrohre Haibleitetdetektoren . Analytische Anwendungen Kalibration Nachweisgrenzen . Totalreßexions-Röntgenßuoreszenzanalyse (TRXRF) . Schichtdickenmessung nach dem Röntgenfluoreszenz-Verfahren Verwendung von selektiven Absorptionsfolien (Filter) Schichtdickenmessung von Deck- und Zwischenschicht . Schichtdickenmessung einer zweikomponentigen Legierungsschicht . Neuere Entwicklungen in der Röntgenspektrometrie ] RFA-Analyse der ieichten Elemente Pseudokristalie . Zusammenfassung und Ausbück Oberflächenanalytik . Methoden . Energiedispersive Rbntgenmikroanalyse Qualitative Röntgenanalyse Quantitative Analyse . Protoneninduzierte Röntgenemission Auger-Elektronenspektroskopie Scanning Auger Microscope . Elektronenspektroskopie fur die chemische Analyse . Sekundarionen-Massenspektroskopie . Ionenstreu-Spektroskopie . Raster-Sonden-Mikroskopie STM-Prinzip AFM-Prinzip Magnetokraft-Mikroskop Rasterelektrochemisches Mikroskop Anwendungen Schlußbetrachtung Verzeichnis der Gerateanbieter Quellenverzeichnis Literaturverzeichnis Abkürzungsverzeichnis Stichwortverzeichnis