Cover von Photogrammetrie, Laserscanning, optische 3D-Messtechnik wird in neuem Tab geöffnet

Photogrammetrie, Laserscanning, optische 3D-Messtechnik

Beiträge der Oldenburger 3D-Tage 2015 [am 4. und 5. Februar 2015]
Verfasser*in: Suche nach Verfasser*in Luhmann, Thomas; Müller, Christina; Oldenburger 3D-Tage <14., 2015, Oldenburg (Oldenburg)>; Fachhochschule Oldenburg/Ostfriesland/Wilhelmshaven / Institut für Angewandte Photogrammetrie und Geoinformatik
Verfasser*innenangabe: Thomas Luhmann ; Christina Müller (Hrsg.)
Jahr: 2015
Verlag: Berlin [u.a.], Wichmann
Mediengruppe: Buch
verfügbar

Exemplare

AktionZweigstelleStandorteStatusFristVorbestellungen
Vorbestellen Zweigstelle: 07., Urban-Loritz-Pl. 2a Standorte: NT.EEM Phot / College 6b - Technik Status: Verfügbar Frist: Vorbestellungen: 0

Inhalt

 
 
- Alle Tagungsbeiträge der 14. Oldenburger 3D-Tage vom 4. bis 5. Februar 2015
 
- Neueste Forschungsergebnisse und Anwendungsbeispiele aus Photogrammetrie, Laserscanning und optischer 3D-Messtechnik
 
- Themenschwerpunkte: Dynamische Prozesse, Oberflächenerfassung und Modellierung, Navigation von Objekten und Sensoren, Mobile Systeme und Plattformen, Neue Sensoren und Systeme, Messunsicherheit und Standardisierung
 
 
Das Institut für Angewandte Photogrammetrie und Geoinformatik der Jade Hochschule Wilhelmshaven/Oldenburg/Elsfleth veranstaltet im Februar 2015 die 14. Oldenburger 3D-Tage.
 
Diese Veranstaltung bildet eine wichtige Plattform für Experten der Bereiche Photogrammetrie, Geodäsie und industrieller Messtechnik. Die Veranstaltung gilt sie als eine der wichtigen in diesem Bereich. Die aktuellen Beiträge dokumentieren die neuesten Forschungsergebnisse und Anwendungsbeispiele aus Wissenschaft und Praxis, die in dieser Form kaum zu finden sind.
 
 
-> (Verlagsinformation) / Detailliertes Inhaltsverzeichnis siehe unten angeführten Link
 
 

Details

Verfasser*innenangabe: Thomas Luhmann ; Christina Müller (Hrsg.)
Jahr: 2015
Verlag: Berlin [u.a.], Wichmann
opens in new tab
Systematik: Suche nach dieser Systematik NT.EEM
Suche nach diesem Interessenskreis
ISBN: 978-3-87907-553-9
2. ISBN: 3-87907-553-0
Beschreibung: VIII, 280 S. : zahlr. Ill., graph. Darst.
Schlagwörter: Fotogrammetrie, Kongress, Laserscanner, Optische Messtechnik, Bildmessung, Fotogrammmetrie, Kolloquium, Kongresse, Künstlersymposion, Messtechnik / Optisches Verfahren, Photogrammetrie, Photogrammmetrie, Sommerschule <Kongress>, Symposion <Kongress>, Symposium <Kongress>, Tagung <Kongress>, Vortragssammlung
Suche nach dieser Beteiligten Person
Sprache: gerúeng
Fußnote: Veranst.: Institut für Angewandte Photogrammetrie und Geoinformatik der Jade Hochschule Wilhelmshaven/Oldenburg/Elsfleth. - Beitr. überw. dt., teilw. engl. - Literaturangaben
Mediengruppe: Buch