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Die 20., stark überarbeitete Auflage dieses bewährten Standardwerks behandelt grundlegend und umfassend sämtliche Teilgebiete der Kristallographie, wobei u. a.aktuelle Beugungsmethoden mit Neutronen und Synchrotronstrahlung erstmalig beschrieben werden.

 

 

Aus dem Inhalt:

Vorwort — XI / / Einleitung — XIII / / 1 Kristallstrukturlehre und Kristallmorphologie — 1 / 1.1 Gitterbau der Kristalle — 1 / 1.1.1 Das Raumgitter — 1 / 1.1.2 Elementarzellen, Gittertypen, Achsensysteme — 6 / 1.2 Beschreibung von Kristallen —13 / 1.2.1 Gesetz der Winkelkonstanz —13 / 1.2.2 Winkelmessung —15 / 1.2.3 Kristallprojektionen —17 / 1.3 Grundgesetze der Kristallmorphologie — 21 / 1.3.1 Millersche Indizes — 21 / 1.3.2 Zonen und Flächen — 25 / 1.3.3 Indizierung im trigonalen und hexagonalen Kristallsystem — 29 / 1.4 Zeichnen von Kristallen — 31 / 1.5 Symmetrie von Kristallen — 34 / 1.5.1 Drehachsen — 35 / 1.5.2 Analytische Darstellung von Drehungen — 39 / 1.5.3 Spiegelebene und Inversionszentrum — 43 / 1.5.4 Drehinversionsachsen und Drehspiegelachsen — 45 / 1.5.5 Symmetrieelemente und Kristallklassen — 48 / 1.5.6 Formen — 54 / 1.6 Die 32 Kristallklassen — 56 / 1.6.1 Triklines Kristallsystem — 58 / 1.6.2 Monoklines Kristallsystem — 59 / 1.6.3 Orthorhombisches Kristallsystem — 61 / 1.6.4 Tetragonales Kristallsystem — 64 / 1.6.5 Trigonales Kristallsystem — 68 / 1.6.6 Hexagonales Kristallsystem — 73 / 1.6.7 Kubisches Kristallsystem — 76 / 1.7 Symmetriebestimmung, Scheinsymmetrie, Flächensymmetrie — 82 / 1.8 Kristallverwachsungen, Zwillinge — 83 / 1.9 Symmetrie von Kristallstrukturen — 85 / 1.9.1 Schraubenachsen und Gleitspiegelebenen — 86 / 1.9.2 Analytische Darstellung von strukturellen Symmetrieoperationen — 89 / 1.9.3 Raumgruppen — 91 / 1.9.4 Korrespondenz zwischen Struktur und Habitus —102 / / / 2 Kristallchemie —108 / 2.1 Eigenschaften der Kristallbausteine —109 / 2.1.1 lonenradien —110 / 2.1.2 Kovalente Radien —113 / 2.1.3 Metallische Radien —114 / 2.1.4 Van-der-Waals-Radien —114 / 2.1.5 Elektronegativität —115 / 2.2 Kugelpackungen —116 / 2.3 Bindungszustände —125 / 2.3.1 lonare Bindung —126 / 2.3.2 Kovalente Bindung —132 / 2.3.3 Metallische Bindung —135 / 2.3.4 Van-der-Waals-Bindung —136 / 2.3.5 Mischbindungen —137 / 2.3.6 Paulingsche Regeln —139 / 2.4 Systematische Kristallchemie —140 / 2.4.1 Kristallstrukturen mit metallischer Bindung —143 / 2.4.1.1 Kristallstrukturen metallischer Elemente —144 / 2.4.1.2 Intermetallische Phasen —150 / 2.4.1.3 Sulfidstrukturen------154 / 2.4.2 Kristallstrukturen mit kovalenter und ionarer Bindung —161 / 2.4.2.1 Kristallstrukturen mit kovalenter Bindung —162 / 2.4.2.2 Kristallstrukturen mit ionarer Bindung —170 / 2.4.2.3 Kristallstrukturen mit Komplexen —179 / 2.4.2.4 Kristallstrukturen mit verknüpfbaren Komplexen (Borate, Silikate) —184 / 2.5 Molekülstrukturen —198 / / 3 Beugungsmethoden und Kristallstrukturbestimmung — 202 / 3.1 Einleitung und Übersicht — 202 / 3.2 Erzeugung von Röntgenstrahlung — 203 / 3.2.1 Erzeugung von Röntgenstrahlung mit Röntgenröhren — 203 / 3.2.2 Synchrotronstrahlungsquellen — 207 / 3.2.3 Gegenwärtige Entwicklungen — 209 / 3.3 Theorie der Röntgenbeugung — 210 / 3.3.1 Thomson-Streuung — 212 / 3.3.2 Der Atomformfaktor — 213 / 3.3.3 Debye-Waller Faktor und atomarer Verschiebungsparameter—215 / 3.3.4 Das reziproke Gitter — 216 / 3.3.5 Braggsche Gleichung — 217 / 3.3.6 Ewald-Konstruktion — 218 / 3.3.7 Kinematische und dynamische Streutheorie — 220 / 3.3.8 Intensität von Reflexen in der kinematischen Streutheorie — 220 / 3.3.8.1 Der Strukturfaktor — 221 / 3.3.8.2 Strukturfaktor in zentrosymmetrischen Strukturen — 223 / 3.3.8.3 Friedelsches Gesetz — 224 / 3.3.8.4 Auslöschungen-----225 / 3.3.8.5 Integrale Auslöschungen — 225 / 3.3.8.6 Zonale und serielle Auslöschungen — 226 / 3.3.8.7 Umweganregung — 227 / 3.4 Strahlkonditionierung — 228 / 3.4.1 Monochromatisierung durch Filterung — 228 / 3.4.2 Monochromatisierung durch Beugung an Einkristallen — 230 / 3.4.3 Fokussierung — 230 / 3.4.3.1 Röntgenlinsen — 231 / 3.4.3.2 KB-Spiegel — 231 / 3.5 Detektion von Röntgenstrahlen — 231 / 3.5.1 Röntgenfilme und Bildplatten — 231 / 3.5.2 Zählrohre — 233 / 3.5.3 Charge Coupled Devices (CCD) — 234 / 3.5.4 Halbleiter-basierte Detektoren — 234 / 3.5.4.1 Indirekte und direkte „flat panel“-Detektoren — 234 / 3.5.4.2 Hybride Pixeldetektoren — 235 / 3.6 Einkristallmethoden — 235 / 3.6.1 Ablauf einer Einkristallstrukturbestimmung — 237 / 3.6.2 Laue-Methode — 242 / 3.6.3 Crystallographic Information Framework — 245 / 3.7 Pulvermethoden — 245 / 3.7.1 Ablauf einer winkeldispersiven Röntgenpulvermessung — 246 / 3.7.1.1 Indizierung — 247 / 3.7.1.2 Flächenhäufigkeit — 249 / 3.7.2 Strukturlose Gitterparameterverfeinerung — 249 / 3.7.2.1 Pawley-Ansatz — 250 / 3.7.2.2 Le Bail-Ansatz — 250 / 3.7.2.3 Strukturbestimmungen aus Pulverdaten — 251 / 3.7.3 Rietveld-Verfeinerung — 251 / 3.7.4 Reflexverbreiterung — 253 / 3.7.4.1 Williamson-Hall-Diagramm — 254 / 3.8 Probenumgebungen für Diffraktionsexperimente — 254 / 3.8.1 Druckabhängige Röntgenbeugungsexperimente — 255 / 3.8.1.1 Diamantstempelzellen — 255 / 3.8.1.2 Vielstempelapparaturen und Paris-Edinburgh-Zellen — 256 / 3.8.2 Temperaturabhängige Beugungsexperimente — 256 / 3.9 Beugung an amorphen und schlecht-kristallinen Proben — 257 / 3.10 Diffuse Streuung — 258 / 3.11 Neutronenbeugung — 259 / 3.11.1 Erzeugung von Neutronenstrahlen — 259 / 3.11.2 Theorie der Neutronenbeugung — 261 / 3.11.3 Detektion von Neutronenstrahlen — 262 / 3.11.4 Diffraktion mit Neutronen — 262 / 3.11.4.1 Winkeldispersive Messungen an Pulvern — 262 / 3.11.4.2 Flugzeitmessungen — 263 / / 4 Kristallisation-Kristallwachstum-Kristallzüchtung — 264 / 4.1 Phasendiagramme von Mehrstoffsystemen — 264 / 4.1.1 Komponenten und Phasen — 264 / 4.1.2 Eute kti ka-----267 / 4.1.3 Mischkristallbildung-----268 / 4.1.4 Schmelzverhalten — 269 / 4.1.5 Weitere Phänomene — 271 / 4.2 Grundlagen der Kristallisation — 273 / 4.2.1 Keimbildung-----273 / 4.3 Wachstum von Kristallen — 280 / 4.4 Kristallzüchtung-----285 / 4.5 Die wichtigsten Kristallzüchtungsverfahren — 290 / 4.5.1 Das Czochralski-Verfahren — 290 / 4.5.2 Das Bridgman-Verfahren — 292 / 4.5.3 DasVerneuil-Verfahren — 293 / 4.5.4 Zonen-Verfahren — 295 / 4.5.5 Kristallzüchtung aus Lösungen-----298 / 4.5.6 Kristallzüchtung aus Hochtemperaturschmelzlösungen — 299 / 4.5.7 Weitere Kristallzüchtungsverfahren — 301 / 4.5.8 Epitaxie, Topotaxie-----302 / 4.6 Vorgänge in Kristallen — 309 / 4.6.1 Diffusion in Kristallen — 310 / 4.6.2 Phasenübergänge — 315 / 4.6.3 Strahlenwirkung-----320 / / 5 Kristallphysik-----323 / 5.1 Tensoren — 324 / 5.1.1 Kristallphysikalische Koordinaten — 324 / 5.1.2 Skalare - Vektoren - Tensoren — 325 / 5.1.3 Graphische Darstellung-----330 / 5.2 Symmetriebetrachtungen — 331 / 5.2.1 Kontinuierliche Punktgruppen — 331 / 5.2.2 Magnetische Punktgruppen — 332 / 5.2.3 Einfluss der Kristallsymmetrie — 334 / 5.3 Tensoren 0. und 1. Stufe — 337 / 5.3.1 Dichte-----337 / 5.3.2 Elektrische Polarisation, Pyroelektrizität, Ferroelektrizität — 339 / 5.4 Tensoren 2. Stufe — 347 / 5.4.1 Thermische Ausdehnung — 347 / 5.4.2 Wärmeleitung — 352 / 5.4.3 Darstellung von Tensoren 2. Stufe — 356 / 5.4.4 Elektrische Leitung — 361 / 5.4.5 Deformation und Spannung — 363 / 5.4.6 Magnetische Eigenschaften von Kristallen — 365 / 5.4.6.1 Magnetisierung, Diamagnetismus, Paramagnetismus — 365 / 5.4.6.2 Ferromagnetismus, Antiferromagnetismus, Ferrimagnetismus — 368 / 5.4.6.3 Symmetrie von Magnetika: Antisymmetrie — 373 / 5.5 Optische Eigenschaften von Kristallen (Kristalloptik) — 374 / 5.5.1 Lichtbrechung-----375 / 5.5.2 Doppelbrechung und Polarisation — 378 / 5.5.3 Ellipsoide von Fresnel und von Fletcher (Indikatrix) — 384 / 5.5.4 Optisch zweiachsige Kristalle — 387 / 5.5.5 Das Polarisationsmikroskop — 392 / 5.5.6 Orthoskopie — 395 / 5.5.7 Konoskopie-----402 / 5.5.8 Optische Aktivität (Gyrotropie) — 409 / 5.5.9 Reflexion — 412 / 5.5.10 Elastooptischer Effekt — 414 / 5.5.11 Nichtlineare Optik — 416 / 5.6 Tensoren 3. und 4. Stufe — 421 / 5.6.1 Piezoelektrizität — 421 / 5.6.2 Mechanische Eigenschaften von Kristallen — 427 / 5.6.2.1 Elastizität-----428 / 5.6.2.2 Plastizität — 431 / 5.6.2.3 Härte und Spaltbarkeit—438 / / 6 Defekte in Kristallen (Realstrukturen) — 444 / 6.1 Punktdefekte — 445 / 6.1.1 Physikalische Punktdefekte — 445 / 6.1.2 Chemische Punktdefekte — 449 / 6.2 Eindimensionale Baufehler: Versetzungen — 451 / 6.3 Zweidimensionale Baufehler: Korngrenzen, Zwillinge, Stapelfehler — 458 / 6.3.1 Großwinkelkorngrenzen — 459 / 6.3.2 Kleinwinkelkorngrenzen — 460 / / Zwillingsgrenzen-----461 / Stapelfehler — 462 / Antiphasengrenzen — 463 / Dreidimensionale Baufehler: Einschlüsse und Ausscheidungen — 464 / Grenzformen des Kristallzustandes — 464 / Untersuchungsmethoden für Realstrukturen — 470 / Röntgenographische Methoden — 471 / Elektronenmikroskopische Methoden — 476 / / Beantwortung der Fragen — 489 / / Literatur — 493 / / Stichwortverzeichnis — 505