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Cover von Elektronenmikroskopie
Grundlagen, Methoden, Anwendungen
Verfasser*in: Flegler, Stanley L.; Heckman, John W.; Klomparens, Karen L. Suche nach Verfasser*in
Jahr: 1995
Verlag: Heidelberg [u.a.], Spektrum, Akad. Verl.
Mediengruppe: Buch
OPEN V 10.1.3.0